书目详细信息
： 数字集成电路测试:理论、方法与实践
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-302-66203-7:CNY79.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路测试/.李华伟[等]编著 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2024 |
| 载体形态项： | 10,258页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 集成电路科学与技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论,第2-9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术,第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。针对每一种数字电路测试技术,本书一方面用示例讲述其技术原理,另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明将作为本书附录在网站上提供下载),并在章后附有习题。通过本书,读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术;另一方面,还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。 |
| 题名主题： | 数字集成电路 测试技术 |
| 中图分类： | TN431.207 |
| 个人名称等同： | 李华伟 编著 |
| 记录来源： | CN BWZ 20241201 |