书目详细信息
： 层析γ扫描技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-13613-5:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 层析γ扫描技术/.张全虎,周满,黎素芬著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2025 |
| 载体形态项： | 149页:;+图:;+24cm |
| 相关题名附注： | 封面英文题名:Tommographic gamma scanning technology |
| 提要文摘： | 本书是作者团队20多年来长期从事层析γ扫描技术学术、科研以及教学研究的成果结晶。作者试图从理论、模拟、实验到应用,全面系统地阐述层析γ扫描技术,对于其中的3个关键核心技术,即探测效率的刻度技术、透射图像重建技术和发射图像重建技术,进行了重点论述,在层析γ扫描实验系统方面,结合实验室研发的实验装置,介绍了系统的结构、组成、原理及实验验证。 |
| 并列题名： | Tommographic gamma scanning technology eng |
| 题名主题： | 核工程 工程材料 γ射线 无损检验 |
| 中图分类： | TL34 |
| 个人名称等同： | 张全虎 著 |
| 个人名称等同： | 周满 著 |
| 个人名称等同： | 黎素芬 著 |
| 记录来源： | CN XHWX 20250709 |